電氣設(shè)備安規(guī)測(cè)試——電氣安規(guī)核心測(cè)試項(xiàng)目介紹

電氣設(shè)備安規(guī)測(cè)試——電氣安規(guī)核心測(cè)試項(xiàng)目介紹

電氣安規(guī)核心測(cè)試項(xiàng)目

• 保護(hù)導(dǎo)體接地連續(xù)性電阻

• 絕緣電阻測(cè)試

• 耐壓測(cè)試

• 泄露電流測(cè)試

■ 電氣安規(guī)測(cè)試項(xiàng)目：保護(hù)導(dǎo)體接地連續(xù)性電阻 / R_PE

√ 中文名稱：接地電阻/阻抗、接地連接電阻、保護(hù)接地阻抗

√ 英文名稱： Protective Conductor Resistance（R_PE）/ Ground Bond（GB）/ Earth Bond / Earth Continuity

√ 定義：被測(cè)裝置的安全接地系統(tǒng)中，必須要保證電氣產(chǎn)品的接地部分通過接地導(dǎo)體牢靠地連接到接地點(diǎn)。同樣也要確認(rèn)電氣裝置的底座和其它容易接觸到的導(dǎo)電部分牢固地連接到安全接地點(diǎn)。 R_PE就是這些接地點(diǎn)之間的電阻值。

√ 測(cè)試目的：確保產(chǎn)品因基本絕緣失效后，保護(hù)接地能有效并可靠的將危險(xiǎn)電壓導(dǎo)至大地，不至于對(duì)人體產(chǎn)生危害。-接地電阻絕緣耐壓測(cè)試儀

■ 電氣安規(guī)測(cè)試項(xiàng)目：絕緣電阻測(cè)試 / R_INS

√ 英文名稱： Insulation Resistance（IR / R_INS）/ Isolation Resistance （R_ISO ）/ Megohm / Megger Testing

√ 定義：絕緣物在規(guī)定條件下的直流電阻。加直流電壓于電介質(zhì)，經(jīng)過一定時(shí)間極化過程結(jié)束后，流過電介質(zhì)的泄漏電流對(duì)應(yīng)的電阻稱絕緣電阻。

√ 測(cè)試目的：絕緣電阻是對(duì)電氣設(shè)備的安全性的一個(gè)衡量指標(biāo)，是電氣設(shè)備和電氣線路最基本的絕緣指標(biāo)。通過測(cè)量電氣設(shè)備絕緣電阻值的大小常能反應(yīng)絕緣情況，能有效地發(fā)現(xiàn)設(shè)備局部或整體受潮和臟污，以及絕緣擊穿和嚴(yán)重過熱老化等缺陷。-接地電阻絕緣耐壓測(cè)試儀

■ 交流/直流耐壓測(cè)試

√ 中文名稱：介電強(qiáng)度測(cè)試、高壓測(cè)試、高電壓介電測(cè)試

√ 英文名稱： AC/DC Dielectric Strength Test / High-Voltage Test （HV）/ Dielectric Withstand Voltage Test（ACW / DCW）/ AC Flash Test / Hipot Test

√ 定義：加直流/交流高壓于電介質(zhì)，通過測(cè)試泄露電流或者觀察擊穿，來評(píng)估電氣設(shè)備承受過電壓的能力。直流電壓下絕緣基本上不產(chǎn)生介質(zhì)損失，因此對(duì)絕緣的破壞性小。交流耐壓從介質(zhì)損失的熱擊穿觀點(diǎn)出發(fā),可以有效地發(fā)現(xiàn)局部游離性缺陷及絕緣老化的弱點(diǎn)，但是，交流耐壓對(duì)絕緣的破壞性比直流大。

√ 測(cè)試目的：耐壓測(cè)試是檢驗(yàn)電器、電氣設(shè)備、電氣裝置、電氣線路和電工安全用具等承受過電壓能力的主要方法之一。-泄露電流測(cè)試設(shè)備

■ 泄露電流測(cè)試

√ 中文名稱：泄露測(cè)試、接觸電流測(cè)試

√ 英文名稱： Leakage Current（LC） / Touch Current

√ 定義：對(duì)于電器的測(cè)試，泄漏電流是指在施加電壓的情況下，電氣中帶相互絕緣的金屬零件之間，或帶電零件與接地零件之間，通過其周圍介質(zhì)或絕緣表面所形成的電流稱為泄漏電流。

√ 測(cè)試目的：泄露電流是衡量電器絕緣性好壞的重要標(biāo)志之一，是產(chǎn)品安全性能的主要指標(biāo)。將泄漏電流限制在一個(gè)很小值，這對(duì)提高產(chǎn)品安全性能具有重要作用。在電器產(chǎn)品中，對(duì)安全性能要求較高的產(chǎn)品，對(duì)泄漏電流都有嚴(yán)格的要求。-泄露電流測(cè)試設(shè)備

泄露電流測(cè)試設(shè)備